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當(dāng)前位置：南京銘奧儀器設(shè)備有限公司>>產(chǎn)品展示>>SunScan 植物冠層分析儀
SunScan專業(yè)版冠層分析儀采用上*采用的原理（比爾定律以及冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)相關(guān)的原理），通過魚眼鏡頭成像和CCD圖像傳感器測(cè)量冠層數(shù)據(jù)和獲取植物冠層圖像...
SunScan植物冠層分析儀是一款簡(jiǎn)便的測(cè)量和分析冠層中入射和透射光合有效輻射（PAR）的系統(tǒng)，提供了關(guān)于影響田間作物生長(zhǎng)的限制因素的有價(jià)值的信息，如葉面積指數(shù)...
HemiView植物圖像分析系統(tǒng)通過處理影像數(shù)據(jù)文件來獲取與冠層結(jié)構(gòu)有關(guān)的，例如葉面積指數(shù)、光照間隙及間隙分布狀況。通過分析輻射數(shù)據(jù)的相關(guān)信息，能夠測(cè)算出冠層截...
DELTA-T植物冠層分析儀采用上*采用的原理（比爾定律以及冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)相關(guān)的原理），通過魚眼鏡頭成像和CCD圖像傳感器測(cè)量冠層數(shù)據(jù)和獲取植物冠層圖像，...
HemiView葉面圖像分析系統(tǒng)通過處理影像數(shù)據(jù)文件來獲取與冠層結(jié)構(gòu)有關(guān)的，例如葉面積指數(shù)、光照間隙及間隙分布狀況。通過分析輻射數(shù)據(jù)的相關(guān)信息，能夠測(cè)算出冠層截...
SunScan 植物冠層分析儀是英國(guó) Delta-T公司旗艦產(chǎn)品，設(shè)備通過測(cè)量作物冠層PAR值提供了關(guān)于影響田間作物生長(zhǎng)的限制因素的有價(jià)值的信息，如葉面積指數(shù)（...
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